奥比中光获得发明专利授权：“iTOF深度测量系统及深度测量方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示奥比中光（688322）新获得一项发明专利授权，专利名为“iTOF深度测量系统及深度测量方法”，专利申请号为CN202211096222.9，授权日为2026年3月17日。

专利摘要：本申请提供了一种iTOF深度测量系统及深度测量方法，iTOF深度测量系统包括发射模组、接收模组及控制与处理器。控制与处理器用于控制发射模组向目标物发射第一光束及同步控制接收模组曝光，以采集目标物反射的第一光束，得到第一光束数据；根据第一光束数据计算第一光束的最短飞行时间，并根据最短飞行时间确定接收模组的延迟曝光时间；控制发射模组向目标物发射第二光束，并控制接收模组在延迟曝光时间后开始曝光，以采集目标物反射回的第二光束，得到第二光束数据；根据第二光束数据计算目标物的深度距离。本申请可以有效提升iTOF深度测量系统的深度测量精度。

今年以来奥比中光新获得专利授权27个，较去年同期增加了145.45%。结合公司2025年中报财务数据，2025上半年公司在研发方面投入了9118.07万元，同比减14.02%。

通过天眼查大数据分析，奥比中光科技集团股份有限公司共对外投资了21家企业，参与招投标项目137次；财产线索方面有商标信息134条，专利信息1209条，著作权信息57条；此外企业还拥有行政许可54个。

数据来源：天眼查APP

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