西测测试获得发明专利授权：“基于元器件二筛数据的无人机飞控系统可靠性预计方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示西测测试（301306）新获得一项发明专利授权，专利名为“基于元器件二筛数据的无人机飞控系统可靠性预计方法”，专利申请号为CN202510287545.3，授权日为2025年5月27日。

专利摘要：本发明属于无人机技术领域，具体公开了一种基于元器件二筛数据的无人机飞控系统可靠性预计方法，包括：建立无人机飞控系统的元器件二筛数据矩阵，并进行元器件可靠性模型参数估计，得到无人机飞控系统中各型号元器件可靠性模型参数；划分无人机飞控系统关键功能模块并构建无人机飞控系统的可靠性框图；基于无人机飞控系统中各型号元器件可靠性模型参数、无人机飞控系统关键功能模块和无人机飞控系统的可靠性框图结构，利用蒙特卡洛抽样方法进行无人机飞控系统可靠性预计。本发明解决了现有方法数据利用率低、模型关联性差、建模复杂性高以及随机性处理能力不足的问题，实现无人机飞控系统可靠性预计的全面、科学与高效。

今年以来西测测试新获得专利授权3个。结合公司2024年年报财务数据，2024年公司在研发方面投入了1814.11万元，同比减8.4%。

数据来源：天眼查APP

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