精测电子获得发明专利授权：“一种基于深度学习的点缺陷特征还原方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示精测电子（300567）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种基于深度学习的点缺陷特征还原方法”，专利申请号为CN202410670906.8，授权日为2026年5月29日。

专利摘要：本发明提供了一种基于深度学习的点缺陷特征还原方法，通过光学拍摄和相机取像，捕捉同一类型的点缺陷在屏幕不同区域的形态，通过裁切得到若干缺陷小图，根据缺陷小图，建立同一类点缺陷在中心区域与非中心区域的图像对数据集，经过深度学习网络训练得到具有还原功能的网络模型，基于该网络模型可将非中心区域的点缺陷映射成该缺陷在中心区域应有的形态和灰阶特征，再对还原后的图像进行缺陷分类。本发明方法解决了因缺陷形态差异大造成的分类困难问题，弥补了常规校正算法的不足，提高了缺陷形态复原的可靠性，从而提高缺陷分类的准确性和效率。

今年以来精测电子新获得专利授权58个，较去年同期增加了141.67%。结合公司2025年年报财务数据，2025年公司在研发方面投入了8.12亿元，同比增12.13%。

通过天眼查大数据分析，武汉精测电子集团股份有限公司共对外投资了24家企业，参与招投标项目591次；财产线索方面有商标信息24条，专利信息2124条，著作权信息81条；此外企业还拥有行政许可5个。

数据来源：天眼查APP

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