星图测控获得发明专利授权：“一种基于历史TLE数据的空间目标面质比估计方法及系统”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示星图测控（920116）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种基于历史TLE数据的空间目标面质比估计方法及系统”，专利申请号为CN202511175243.3，授权日为2026年3月3日。

专利摘要：本发明公开了一种基于历史TLE数据的空间目标面质比估计方法及系统，其中方法包括：获取空间目标的历史TLE数据，筛选一段持续时间最长的半长轴随时间下降的TLE数据；针对选定时间段内的TLE数据，外推成星历进行精密定轨，并同步解大气阻力系数；根据大气阻力系数反算卫星面质比；对卫星面质比进行处理，输出处理后卫星面质比。本发明利用公开的历史TLE数据，通过筛选半长轴下降的有效数据段，结合精密定轨和解算大气阻力系数，无需目标配合即可反推面质比，解决了非合作目标面质比获取困难的问题，提升面质比获取可行性，拓展了空间目标监测的应用范围。

今年以来星图测控新获得专利授权3个。结合公司2025年中报财务数据，2025上半年公司在研发方面投入了2046.1万元，同比增59.92%。

通过天眼查大数据分析，中科星图测控技术股份有限公司共对外投资了6家企业，参与招投标项目157次；财产线索方面有商标信息32条，专利信息94条，著作权信息250条；此外企业还拥有行政许可15个。

数据来源：天眼查APP

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