大普微获得发明专利授权：“固态硬盘多性能指标验证方法、固件系统及固态硬盘”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示大普微（301666）新获得一项发明专利授权，专利名为“固态硬盘多性能指标验证方法、固件系统及固态硬盘”，专利申请号为CN202211281699.4，授权日为2026年7月17日。

专利摘要：本申请涉及固态硬盘技术领域，具体涉及一种固态硬盘多性能指标验证方法、固件系统及固态硬盘。该方法应用于固态硬盘，通过获取待测I/O模型，将所述待测I/O模型排列至预设表格，然后根据所述预设表格，按行来运行所述待测I/O模型，并进行数据处理，以获取所述待测I/O模型对应的性能数据，再根据所述性能数据，同步更新固态硬盘的性能验证结果数据。本申请通过集中收集所有待测I/O模型，共用运行和数据处理的程序，提升了SSD盘多性能指标验证的执行效率，方法执行步骤规范统一化，提高了系统维护效率，且能够减少人力投入，节省人力维护的时间成本。

今年以来大普微新获得专利授权19个。结合公司2025年年报财务数据，2025年公司在研发方面投入了3.85亿元，同比增40.36%。

通过天眼查大数据分析，深圳大普微电子股份有限公司共对外投资了9家企业，参与招投标项目10次；财产线索方面有商标信息185条，专利信息376条，著作权信息15条；此外企业还拥有行政许可29个。

数据来源：天眼查APP

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