广立微获得发明专利授权：“低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备”，专利申请号为CN202510766209.7，授权日为2025年9月16日。

专利摘要：本申请涉及一种低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备，低引脚数芯片测试电路包括：控制模块与测试模块连接，输入输出引脚与功能模块和使能模块连接，使能模块分别与控制模块和测试模块连接；其中，使能模块选通测试模式时，控制模块根据第一测试需求生成独热码，以基于独热码选通测试模块；输入输出引脚根据第一测试需求生成第一测试信号，测试模块响应于第一测试信号生成测试结果；或者，使能模块选通功能模式时，输入输出引脚根据第二测试需求生成第二测试信号，功能模块响应于第二测试信号触发功能测试状态并生成测试结果，解决输入输出引脚数量无法满足芯片测试需求的问题。

今年以来广立微新获得专利授权55个，较去年同期增加了77.42%。结合公司2025年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了1.44亿元，同比增9.1%。

通过天眼查大数据分析，杭州广立微电子股份有限公司共对外投资了16家企业，参与招投标项目48次；财产线索方面有商标信息132条，专利信息234条，著作权信息92条；此外企业还拥有行政许可57个。

数据来源：天眼查APP

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