广立微获得发明专利授权：“探针卡针尖状况检测方法、结构、晶圆以及晶圆测试方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“探针卡针尖状况检测方法、结构、晶圆以及晶圆测试方法”，专利申请号为CN202510517717.1，授权日为2025年7月18日。

专利摘要：本申请提供探针卡针尖状况检测方法、结构、晶圆以及晶圆测试方法，涉及一种探针卡针尖状况检测方法，包括：确定探针卡的多个待测探针；确定多个探针垫，依次在两个探针垫之间设置金属线结构以连接形成测试电路；将待测探针分别扎针至对应的探针垫进行接触连接；基于探针垫在测试电路中的位置划分设计多个测试组，量测待测探针与对应探针垫的接触电阻；基于待测探针与对应探针垫的接触电阻，判断待测探针的针尖状态。本申请利用电性测试的手段，对探针卡的针尖状况进行监测，既降低了测试成本，又进一步提高了测试准确度以及检测效率。

今年以来广立微新获得专利授权46个，较去年同期增加了84%。结合公司2024年年报财务数据，2024年公司在研发方面投入了2.77亿元，同比增33.49%。

通过天眼查大数据分析，杭州广立微电子股份有限公司共对外投资了16家企业，参与招投标项目45次；财产线索方面有商标信息132条，专利信息228条，著作权信息91条；此外企业还拥有行政许可56个。

数据来源：天眼查APP

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