广立微获得发明专利授权：“基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质”，专利申请号为CN202411688634.0，授权日为2025年4月8日。

专利摘要：本申请涉及一种基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质，该方法通过获取版图，确定目标区域，获取所述目标区域中的多个绕线任务，所述绕线任务包括待进行绕线连接的测试结构的引脚和对应的焊盘；在所述目标区域中，计算各个所述绕线任务的最短路径；基于预设的布线信息和所述最短路径依次对各个所述绕线任务进行绕线路径生成，直至完成所有绕线任务，解决了由于位线/字线连接方式的绕线随意性大，而引发的测试结构测量误差较大的问题，实现了基于最短路径，依次优化绕线路径，不仅提高了绕线路径的计算效率，也提高了绕线路径的可靠性。

今年以来广立微新获得专利授权34个，较去年同期增加了240%。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了1.32亿元，同比增41.77%。

数据来源：天眼查APP

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