永新光学获得发明专利授权：“一种光学元器件相位差的检测方法及简易检测装置”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示永新光学（603297）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种光学元器件相位差的检测方法及简易检测装置”，专利申请号为CN202411911813.6，授权日为2025年4月8日。

专利摘要：本发明公开了一种光学元器件相位差的检测方法及简易检测装置，采用激光光源、起偏器、检偏器和光功率检测器的组合方案，用于替代偏振测量仪的组件，采用特定的拟合方式，同样能够实现待检测光学元器件的相位差检测，同时通过将放置待检测光学元器件的第二调整架设置成能够绕垂直于水平面的中心轴线转动，并将放置检偏器的第三调整架和光功率检测器固定设置在能够绕第二调整架的中心轴线转动的转臂上，能够在一台设备上同时实现透射与反射相位差的检测需求，且全套设备总计不到1万元人民币，大大降低了设备成本，并且与现有的检测设备的精度基本相同，完全可以满足相位差检测的需要。

今年以来永新光学新获得专利授权5个，较去年同期减少了28.57%。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了5568.25万元，同比增21.33%。

数据来源：天眼查APP

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