艾为电子获得发明专利授权：“数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示艾为电子（688798）新获得一项发明专利授权，专利名为“数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路”，专利申请号为CN202110264997.1，授权日为2025年4月1日。

专利摘要：本发明提供了一种数字集成电路的扫描链测试方法及系统，方法包括将切换向量和输入数据向量按照预设规则转换为组合向量，进而根据组合向量生成组合信号并输入到数字集成电路，然后在数字集成电路内对组合信号进行分离，得到切换信号和输入数据信号，进而进行扫描链测试。通过将原来的两个信号组合为一个信号输入到数字集成电路，减少了一个PAD端口的需求量，因此，只需要三个PAD端口即可进行扫描链测试，具体的，一个PAD端口用于输入组合信号，一个PAD端口用于输入系统时钟，最后一个PAD端口用于扫描链的输出信号的输出。提高了只有三个PAD端口的数字集成电路的测试覆盖率与可观测性，进而提高了量产测试的质量。

今年以来艾为电子新获得专利授权11个，较去年同期减少了71.79%。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了2.53亿元，同比减22.88%。

数据来源：天眼查APP

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