纳睿雷达获得发明专利授权：“基于固定平面天线的扫描对正方法、装置、扫描架、介质”

证券之星消息，根据企查查数据显示纳睿雷达（688522）新获得一项发明专利授权，专利名为“基于固定平面天线的扫描对正方法、装置、扫描架、介质”，专利申请号为CN202311688588.X，授权日为2024年7月19日。

专利摘要：本发明提出了基于固定平面天线的扫描对正方法、装置、扫描架、介质，包括：基于平面调台构建参考平面和三维坐标系，基于平面天线构建目标平面，在三维坐标系中确定包括参考原点、参考横轴点和参考竖轴点，并确定各参考点在目标平面的投影点；通过测量探头在各参考点对投影点测距得到第一距离、第二距离和第三距离，基于参考横轴点与参考竖轴点确定第一参考长度和第二参考长度；基于参考点和投影点构建直角三角形，确定扫描架调整的偏摆角、俯仰角和横滚角。在平面天线固定不可调位的情况下，基于偏摆角、俯仰角和横滚角调整扫描架的位姿，使得扫描架对正平面天线，提高天线辐射特性测试的准确性。

今年以来纳睿雷达新获得专利授权13个，较去年同期增加了30%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了5718.48万元，同比增35.27%。

数据来源：企查查

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