奥普特获得发明专利授权：“一种表面缺陷检测方法及系统”

证券之星消息，根据企查查数据显示奥普特（688686）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种表面缺陷检测方法及系统”，专利申请号为CN202210004445.1，授权日为2024年5月17日。

专利摘要：本发明涉及表面缺陷检测技术领域，具体公开一种表面缺陷检测方法及系统，所述方法包括：选取图像中任一检测点作为待评估检测点；根据待评估检测点的位置确定与该待评估检测点相关的待测区域；获取所述待测区域内包括所述待评估检测点的所有检测点的实测高度，并计算得到所述待测区域内各所述检测点的平均高度；获取各所述平均高度的实测极差；根据所述实测极差和预设的阈值极差，对所述待评估检测点进行表面缺陷评价。本发明提供一种表面缺陷检测方法及系统，使用实测极差作为判据，有效降低数据运算量，提高检测效率。

今年以来奥普特新获得专利授权63个，较去年同期增加了65.79%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了2.02亿元，同比增5.88%。

数据来源：企查查

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