伟测科技获得发明专利授权：“一种悬臂式探针寿命测算方法”

证券之星消息，根据企查查数据显示伟测科技（688372）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种悬臂式探针寿命测算方法”，专利申请号为CN202110234623.5，授权日为2024年4月19日。

专利摘要：本发明提供了一种获取悬臂式探针寿命测算方法，至少包括：获取悬臂式探针的初始针长L0，设定悬臂式探针的针长报废预警值G，报废值B；获取悬臂式探针在单位批次的芯片上的着落频次X,并记录最后一次着落时悬臂式探针的针长L1；计算得到悬臂式探针系统的探针着落的单次损耗值Y；依据前述数据计算探针的使用寿命和报废所达到的频次。本技术方案提供的测算方法以实际测试数据作为支撑，科学合理的对悬臂式探针系统中探针的使用寿命进行测算，提前预警探针的使用寿命，解决了现有的处理方法只能依赖于测试机量测检查和人工发现问题的方式，避免现有处理方法的随意性和偶然性的缺陷，保障晶圆测试的有效进行。

今年以来伟测科技新获得专利授权4个，较去年同期增加了33.33%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了1.04亿元，同比增50.02%。

数据来源：企查查

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