普冉股份获得发明专利授权：“在晶圆测试过程中检测电子位图中坐标偏移的方法”

证券之星消息，根据企查查数据显示普冉股份（688766）新获得一项发明专利授权，专利名为“在晶圆测试过程中检测电子位图中坐标偏移的方法”，专利申请号为CN202011186921.3，授权日为2024年2月6日。

专利摘要：一种在晶圆测试过程中检测电子位图中坐标偏移的方法，将每道晶圆测试后产生的所有电子位图叠加形成一张叠加电子位图，自动统计叠加电子位图上的叠加测试结果，当叠加测试结果中显示至少一个芯片的前道测试结果为不良品，而后道测试结果为良品，和/或当叠加测试结果中显示了至少一道测试结果，同时至少一个芯片缺少了至少一道测试结果，则判断电子位图出现了坐标偏移。本发明在晶圆测试过程中及时发现并阻止电子位图坐标偏移现象的发生，消除了测试厂的隐患和风险，提高了晶圆测试后的产品良率，大大降低了封装厂挑错芯片的可能性，减少了晶圆损失，减小了晶圆流入市场的风险，提高了量产的合格率。

今年以来普冉股份新获得专利授权2个，较去年同期增加了100%。结合公司2023年中报财务数据，2023上半年公司在研发方面投入了9375.44万元，同比增39.49%。

数据来源：企查查

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