纳芯微新获得发明专利授权：“电流传感器空洞缺陷的检测方法及检测系统”

证券之星消息，根据企查查数据显示纳芯微（688052）新获得一项发明专利授权，专利名为“电流传感器空洞缺陷的检测方法及检测系统”，专利申请号为CN202210753309.2，授权日为2023年12月5日。

专利摘要：本发明公开了一种电流传感器空洞缺陷的检测方法及检测系统，其中，所述方法包括：将电流传感器的原边电流输入端和原边电流输出端短路式电连接以形成第一检测端，将电流传感器的副边信号输出端短路式电连接以形成第二检测端；将第一检测端和第二检测端分别与局部放电检测装置电连接；触发局部放电检测装置向第一检测端和第二检测端输出具有预设波形的测试电压，并检测电流传感器响应于测试电压的累积电荷量；根据累积电荷量确定电流传感器的隔离绝缘层中的空洞的体积占比。本发明所提供的技术方案能够解决现有技术中电流传感器在封装过程中可能产生内部空洞缺陷，从而导致电流传感器的绝缘能力下降甚至耐压损坏的技术问题。

今年以来纳芯微新获得专利授权29个，较去年同期减少了3.33%。结合公司2023年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了3.35亿元，同比增219.11%。

数据来源：企查查

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