钢研纳克新获得发明专利授权：“X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统及方法”

证券之星消息，根据企查查数据显示钢研纳克（300797）新获得一项发明专利授权，专利名为“X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统及方法”，专利申请号为CN201711447124.4，授权日为2023年11月21日。

专利摘要：本发明涉及一种用于顺序式波长色散X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统及方法。系统包括操作界面模块、晶体架控制模块、测角仪θ轴与2θ轴高精度步进电机控制模块、探测器数据采集模块、数据图像处理模块；系统选择被测元素谱线作为标定测角仪的基准谱线，通过布拉格方程计算出晶体掠射角与探测器出射角，将测角仪的θ轴与2θ轴旋转到指定位置，通过控制安装在θ轴与2θ轴的步进电机、晶体架、探测器实现对晶体与探测器位置的自动调整，获得晶体校正因子，从而对晶体掠射角与探测器出射角进行校正。本发明实现对分光光路的远程自动调试，保护调试人员免受X射线辐射，减少对调试人员调试经验的依赖，提高调试效率与精度。

今年以来钢研纳克新获得专利授权32个，较去年同期增加了166.67%。结合公司2023年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了4162.88万元，同比增54.4%。

数据来源：企查查

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