西测测试获得发明专利授权：“一种微波组件氢效应可靠性评价方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示西测测试（301306）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种微波组件氢效应可靠性评价方法”，专利申请号为CN202510595590.5，授权日为2025年7月15日。

专利摘要：本发明属于电子器件可靠性分析与评估技术领域，具体公开了一种微波组件氢效应可靠性评价方法，包括：测量微波组件封装腔体内部氢浓度演化规律，拟合得到饱和氢浓度和释氢速率常数；建立微波组件各芯片在不同氢气浓度和温度下的寿命模型；基于饱和氢浓度、释氢速率常数和微波组件各芯片在不同氢气浓度和温度下的寿命模型，计算微波组件各芯片在动态氢浓度与不确定性参数共同作用下的等效寿命，进而计算微波组件氢效应可靠性指标，完成微波组件氢效应可靠性评价。本发明解决了现有技术中缺乏对微波组件中氢气释放与芯片氢中毒反应之间耦合效应的建模能力、无法准确预测长期可靠性的问题。

今年以来西测测试新获得专利授权6个。结合公司2024年年报财务数据，2024年公司在研发方面投入了1814.11万元，同比减8.4%。

通过天眼查大数据分析，西安西测测试技术股份有限公司共对外投资了10家企业，参与招投标项目100次；财产线索方面有商标信息8条，专利信息38条，著作权信息147条；此外企业还拥有行政许可53个。

数据来源：天眼查APP

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