中科飞测获得发明专利授权：“膜层测量方法及装置”_股票频道

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示中科飞测（688361）新获得一项发明专利授权，专利名为“膜层测量方法及装置”，专利申请号为CN202510207978.3，授权日为2025年6月3日。

专利摘要：本发明涉及光学检测技术领域，尤其涉及一种膜层测量方法及装置，膜层测量方法包括：采用泵浦光和探测光照射待测样品，探测光经待测样品反射形成探测信号光，其中，探测光或者泵浦光经回射器引导照射待测样品，回射器沿第一方向往返移动以对探测光或者泵浦光进行时间延迟；接收回射器沿第一方向正向移动时的探测信号光，生成正向扫描光谱，以及接收回射器沿第一方向反向移动时的探测信号光，生成反向扫描光谱；整合正向扫描光谱和反向扫描光谱生成探测光谱，基于探测光谱获取待测样品的膜层性质。本发明至少有利于提升膜层性质的测量效率。

今年以来中科飞测新获得专利授权29个，较去年同期减少了48.21%。结合公司2024年年报财务数据，2024年公司在研发方面投入了4.98亿元，同比增118.17%。