精测电子获得发明专利授权：“一种基于云边协同的缺陷检测系统及方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示精测电子（300567）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种基于云边协同的缺陷检测系统及方法”，专利申请号为CN202411596267.1，授权日为2025年1月17日。

专利摘要：本发明公开了一种基于云边协同的缺陷检测系统和方法，该系统包括：客户端、云端、边缘端；客户端，用于获取用户上传的原图像；边缘端包括一个第一基础缺陷检测模型和至少一个第二定制化缺陷分类模型；本发明采用基础大模型和定制化小模型结合的方案，在边缘端部署一个包含所有缺陷检测的基础缺陷检测模型，以及多个分类模型组成的定制化缺陷分类模型，边缘端只需布置模型，根据布置的模型进行实时检测，上传标注样本和检测结果，将复杂的模型训练工作交给云端，减少了边缘端硬件建设的成本，并且由于本发明的模型架构是基于模块化的设计，可以根据客户的需求仅仅定制和更新定制化缺陷分类模型，因此具有很高的灵活性。

今年以来精测电子新获得专利授权4个，较去年同期减少了73.33%。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了2.95亿元，同比增3.71%。

数据来源：天眼查APP

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