精测电子获得发明专利授权：“基于本地与边缘云联合检测的缺陷检测方法及系统”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示精测电子（300567）新获得一项发明专利授权，专利名为“基于本地与边缘云联合检测的缺陷检测方法及系统”，专利申请号为CN202510581838.2，授权日为2026年7月31日。

专利摘要：本发明提供一种基于本地与边缘云联合检测的缺陷检测方法及系统，属于缺陷检测技术领域，所述方法包括：本地终端对样本图像进行初步检测，若所有初步检测结果的置信度均大于等于第一阈值，则将初步检测结果上报；否则将样本上传至边缘云服务器。边缘云服务器利用多种检测方案对样本进行联合检测，基于少数服从多数原则确定联合决策结果以及联合决策结果的置信度。若联合决策结果的置信度满足要求则上报，否则推送至人工决策模块进行复检，最终将人工复检结果上报。本发明通过本地终端、边缘云服务器和人工决策模块的协同工作，有效提高了缺陷检测的准确性和效率，适用于目标产品的图像缺陷检测场景。

今年以来精测电子新获得专利授权86个，较去年同期增加了95.45%。结合公司2025年年报财务数据，2025年公司在研发方面投入了8.12亿元，同比增12.13%。

通过天眼查大数据分析，武汉精测电子集团股份有限公司共对外投资了23家企业，参与招投标项目600次；财产线索方面有商标信息24条，专利信息2150条，著作权信息83条；此外企业还拥有行政许可5个。

数据来源：天眼查APP

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