龙芯中科获得发明专利授权：“芯片老化测试装置及方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示龙芯中科（688047）新获得一项发明专利授权，专利名为“芯片老化测试装置及方法”，专利申请号为CN202211682941.9，授权日为2026年7月21日。

专利摘要：本申请提供一种芯片老化测试装置及方法，所述装置包括连接状态检测模块、测试控制模块和老化控制模块，其中，所述连接状态检测模块与芯片电连接，用于在所述芯片放置于老化板的测试座上时检测芯片与老化板之间的连接状态是否正常，在检测为正常时生成触发信号；所述测试控制模块，用于根据所述触发信号生成老化确认信号；以及，所述老化控制模块，用于根据所述老化确认信号，允许所述芯片老化测试装置对所述芯片进行老化测试。本申请增加芯片老化测试装置检测芯片与老化板之间的连接状态，可以有效避免老化板和芯片在连接失效的情况下进行老化测试，优化芯片老化测试效果，提高老化覆盖率。

今年以来龙芯中科新获得专利授权44个，较去年同期增加了46.67%。结合公司2025年年报财务数据，2025年公司在研发方面投入了4.34亿元，同比增0.92%。

通过天眼查大数据分析，龙芯中科技术股份有限公司共对外投资了22家企业，参与招投标项目188次；财产线索方面有商标信息469条，专利信息1183条，著作权信息88条；此外企业还拥有行政许可6个。

数据来源：天眼查APP

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