芯联集成获得发明专利授权：“CP测试的监控方法、监控系统及可读存储介质”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示芯联集成（688469）新获得一项发明专利授权，专利名为“CP测试的监控方法、监控系统及可读存储介质”，专利申请号为CN202310304645.3，授权日为2026年5月8日。

专利摘要：本发明提供了一种CP测试的监控方法、监控系统及可读存储介质中，通过将当片晶圆按照CP测试的顺序分成多个区，获取每个区的合格晶粒的关键参数的均值和/或标准差，以及，将各区间的合格晶粒的关键参数的均值偏差和/或标准差偏差与底线值进行比较，若所述均值偏差和/或所述标准差偏差大于所述底线值，则判定CP测试异常，由此能够在每片晶圆的CP测试后即可实现对CP测试的监控，从而可以实现对CP测试的及时监控。

今年以来芯联集成新获得专利授权27个，较去年同期增加了17.39%。结合公司2025年年报财务数据，2025年公司在研发方面投入了18.38亿元，同比减0.2%。

通过天眼查大数据分析，芯联集成电路制造股份有限公司共对外投资了19家企业，参与招投标项目1747次；财产线索方面有商标信息16条，专利信息816条，著作权信息3条；此外企业还拥有行政许可43个。

数据来源：天眼查APP

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