广立微获得发明专利授权：“一种高密度测试芯片的超高速测量方法及其测试系统”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种高密度测试芯片的超高速测量方法及其测试系统”，专利申请号为CN202310622198.6，授权日为2026年1月27日。

专利摘要：本发明提供一种高密度测试芯片的超高速测量方法，预设测试所需的信号并对应写入函数发生器和源测量单元中；控制函数发生器和源测量单元分别产生同步触发的CLK信号和DF信号，与函数发生器相连的地址寄存器根据CLK信号中波形的变换切换地址，触发源测量单元按照DF信号频率对不同地址连续采样，每个地址对应多个采样数据，从多个采样数据中确定函数发生器每个信号地址对应的有效测量值并进行对齐。通过硬件同步触发并配合SMU连续采样的方式实现超高速测试，并且每个地址被测量多次，配合数据分析实现测试地址与有效数据的对齐，可避免测试数据错位问题，有效改善测试数据稳定性。还提供一种测试系统具有相应优势。

今年以来广立微新获得专利授权2个，较去年同期减少了50%。结合公司2025年中报财务数据，2025上半年公司在研发方面投入了1.44亿元，同比增9.1%。

通过天眼查大数据分析，杭州广立微电子股份有限公司共对外投资了16家企业，参与招投标项目49次；财产线索方面有商标信息135条，专利信息257条，著作权信息93条；此外企业还拥有行政许可57个。

数据来源：天眼查APP

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