国科微获得发明专利授权：“一种卫星观测量的质量检测方法、装置、设备及存储介质”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示国科微（300672）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种卫星观测量的质量检测方法、装置、设备及存储介质”，专利申请号为CN202310165852.5，授权日为2025年11月4日。

专利摘要：本申请公开了一种卫星观测量的质量检测方法、装置、设备及存储介质，涉及卫星监测技术领域，包括：获取当前检测卫星的目标卫星参数，并根据所述目标卫星参数获取与所述当前检测卫星对应的关联关系映射表；根据所述关联关系映射表对所述当前检测卫星进行伪距质量分析和/或载波质量分析，以确定所述当前检测卫星的观测量质量是否满足预设条件；若所述当前检测卫星的所述观测量质量不满足所述预设条件，则降低所述当前检测卫星的观测量质量等级。本申请通过进行伪距质量分析和载波质量分析对卫星的观测量质量进行检测，以降低计算量确定出质量不佳的卫星，避免对卫星稳定性和精度的不利影响，利于后续的卫星定位。

今年以来国科微新获得专利授权30个，较去年同期增加了3.45%。结合公司2025年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了2.41亿元，同比减2.67%。

通过天眼查大数据分析，湖南国科微电子股份有限公司共对外投资了18家企业，参与招投标项目99次；财产线索方面有商标信息117条，专利信息654条，著作权信息67条；此外企业还拥有行政许可28个。

数据来源：天眼查APP

以上内容为证券之星据公开信息整理，由AI算法生成（网信算备310104345710301240019号），不构成投资建议。