C奕材获得发明专利授权：“晶圆的缺陷检测方法及装置”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示C奕材（688783）新获得一项发明专利授权，专利名为“晶圆的缺陷检测方法及装置”，专利申请号为CN202411828384.6，授权日为2025年10月31日。

专利摘要：本发明提供了一种晶圆的缺陷检测方法及装置，属于半导体制造技术领域。缺陷检测方法，包括：获取每片晶圆表面的缺陷数据，缺陷数据包括缺陷的类型、尺寸和位置坐标；对同一批次晶圆进行统一规则的分区，每一晶圆被划分为I个区域，计算每一区域的缺陷密度值，第i区域的缺陷密度值由第i区域的缺陷数据和第i区域的面积决定，第i区域的缺陷数据为同一批次的所有晶圆在第i区域的缺陷数据的汇总；将各区域的缺陷密度值与缺陷密度阈值进行比对，若存在区域的缺陷密度值为对应的缺陷密度阈值的N倍以上，或，该批次的M个以上晶圆的同一区域的缺陷密度值大于对应的缺陷密度阈值，将该批次晶圆判定为异常晶圆。本发明能够检测出晶圆的批次性缺陷。

今年以来C奕材新获得专利授权38个。结合公司2025年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了1.28亿元，同比减nan%。

通过天眼查大数据分析，西安奕斯伟材料科技股份有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目3次；财产线索方面有商标信息5条，专利信息1448条；此外企业还拥有行政许可24个。

数据来源：天眼查APP

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