C奕材获得发明专利授权：“晶圆的缺陷检测方法及装置”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示C奕材（688783）新获得一项发明专利授权，专利名为“晶圆的缺陷检测方法及装置”，专利申请号为CN202411653029.X，授权日为2025年10月31日。

专利摘要：本发明提供了一种晶圆的缺陷检测方法及装置，属于半导体制造技术领域。晶圆的缺陷检测方法，包括：对待判定的晶圆进行缺陷边界的提取，确定晶圆的缺陷的形貌信息，形貌信息包括断点数量、缺陷分布密度、每段缺陷的长度及角度；根据形貌信息生成包括多个特征矢量的缺陷密度矩阵，缺陷密度矩阵用于表征缺陷的密度变化及断点分布情况；利用缺陷判定模型对缺陷密度矩阵进行评估，得到晶圆的风险分数；将晶圆的风险分数与预设的风险阈值进行比较，将风险分数大于风险阈值的晶圆判定为出现未连续Special pattern缺陷的晶圆。本发明能够识别未连续Special pattern缺陷的晶圆。

今年以来C奕材新获得专利授权38个。结合公司2025年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了1.28亿元，同比减nan%。

通过天眼查大数据分析，西安奕斯伟材料科技股份有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目3次；财产线索方面有商标信息5条，专利信息1448条；此外企业还拥有行政许可24个。

数据来源：天眼查APP

以上内容为证券之星据公开信息整理，由AI算法生成（网信算备310104345710301240019号），不构成投资建议。