精智达获得发明专利授权：“一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法、装置及存储介质”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示精智达（688627）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法、装置及存储介质”，专利申请号为CN202510969009.1，授权日为2025年10月14日。

专利摘要：本申请公开了一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法、装置及存储介质，用于提高对浅层缺陷的检测精度。获取待测显示屏的反射条纹图；对反射条纹图进行相位回复，生成第一相位恢复数据；根据第一相位恢复数据计算生成第一相位梯度幅值图；根据第一相位梯度幅值图在每个像素处构建局部平均背景梯度；根据第一局部平均背景梯度图和第一相位梯度幅值图生成第一梯度残差图；对第一梯度残差图进行视觉对比度增强处理；对第一异常增强图进行自适应阈值判定，生成第一结构缺陷掩膜图；将第一相位梯度幅值图、第一异常增强图和第一结构缺陷掩膜图进行特征融合；将第一特征融合图输入目标浅层缺陷识别模型进行浅层缺陷检测，生成浅层缺陷检测结果。

今年以来精智达新获得专利授权71个，较去年同期增加了294.44%。结合公司2025年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了6099.3万元，同比增16.28%。

通过天眼查大数据分析，深圳精智达技术股份有限公司共对外投资了8家企业，参与招投标项目180次；财产线索方面有商标信息46条，专利信息242条，著作权信息113条；此外企业还拥有行政许可18个。

数据来源：天眼查APP

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