长光华芯获得发明专利授权：“一种外延片层的厚度测量方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示长光华芯（688048）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种外延片层的厚度测量方法”，专利申请号为CN202510207800.9，授权日为2025年7月8日。

专利摘要：本发明涉及半导体技术领域，公开了一种外延片层的厚度测量方法，外延片层的厚度测量方法包括提供半导体激光器的外延层样品；外延层样品包括多个外延片层，相邻两个外延片层为不同的三五族化合物；获取外延层样品在目标晶带轴方向上的原子尺度分辨率的高角环形暗场像；在高角环形暗场像中沿着目标原子密排面确定目标连线，目标连线穿越相邻外延片层之间的界面，并连接多个原子；根据目标连线上基准原子的亮度，确定外延片层在目标连线上的厚度；根据外延片层在目标连线上的厚度，确定外延片层的厚度。与相关技术相比，本发明可以提高外延片层的厚度测量精度，进而提高激光器的光电性能。

今年以来长光华芯新获得专利授权25个，较去年同期增加了108.33%。结合公司2024年年报财务数据，2024年公司在研发方面投入了1.27亿元，同比增7.02%。

通过天眼查大数据分析，苏州长光华芯光电技术股份有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目67次；财产线索方面有商标信息22条，专利信息259条，著作权信息2条；此外企业还拥有行政许可15个。

数据来源：天眼查APP

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