西测测试获得发明专利授权：“一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示西测测试（301306）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法”，专利申请号为CN202510353805.2，授权日为2025年6月24日。

专利摘要：本发明公开了一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法，涉及电子设备可靠性预测领域，包括收集各个电子设备失效单元的失效物理模型参数，通过失效机理分析确立失效物理模型；对电子设备失效单元进行可靠性参数计算，获得失效物理预测值；基于电子设备可靠性预计手册进行可靠性分析，获得电子设备失效单元的失效率，并计算各失效单元的平均无故障工作时间；使用贝叶斯公式进行系统层面可靠性分析，获得系统失效率和系统平均故障时间，完成失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计。本发明解决了现有技术中对电子设备可靠性进行预测时，难以同时兼顾失效物理机理与实际试验数据、以及缺乏动态修正能力所导致的预测不准确等问题。

今年以来西测测试新获得专利授权5个。结合公司2024年年报财务数据，2024年公司在研发方面投入了1814.11万元，同比减8.4%。

通过天眼查大数据分析，西安西测测试技术股份有限公司共对外投资了10家企业，参与招投标项目98次；财产线索方面有商标信息8条，专利信息37条，著作权信息147条；此外企业还拥有行政许可53个。

数据来源：天眼查APP

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