兆易创新获得发明专利授权：“存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示兆易创新（603986）新获得一项发明专利授权，专利名为“存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法”，专利申请号为CN202310362785.6，授权日为2025年6月13日。

专利摘要：本发明提供一种存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法，通过存储器测试模组耦接相应的输入输出接口和参数寄存器，可以使得存储器芯片在出厂前测试所需的基本电学参数通过输入输出接口输入，在出厂后测试所需的基本电学参数可以根据需要通过输入输出接口输入，也可以从参数寄存器中获取，由此同时兼容出厂前的生产者和出厂后的使用者的测试需求。而且当存储器测试模组集成在存储器芯片的封装体中时，在测试时只需要将探针扎在输入输出接口上，就可以通过存储器测试模组实现存储器芯片中的大量存储器裸芯批量化测试以及测试结果的批量化读取，相对现有的存储器芯片的测试引脚更少，降低测试成本，大大提高测试效率。

今年以来兆易创新新获得专利授权28个，较去年同期减少了49.09%。结合公司2024年年报财务数据，2024年公司在研发方面投入了11.22亿元，同比增13.38%。

数据来源：天眼查APP

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