佰维存储获得发明专利授权：“芯片老化测试电路和芯片老化测试系统”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示佰维存储（688525）新获得一项发明专利授权，专利名为“芯片老化测试电路和芯片老化测试系统”，专利申请号为CN202110317639.2，授权日为2025年2月11日。

专利摘要：本申请公开一种芯片老化测试电路，包括电源模块、处理模块以及与处理模块电连接的至少一测试模块，处理模块具有测试信号接口组和用于连接上位机的信号输出接口；测试模块包括一用于放置待测芯片的芯片测试座，芯片测试座的供电输入引脚电连接电源模块，芯片测试座的信号输出引脚与测试信号接口组的一测试信号引脚对应电连接，输出芯片测试座上的待测芯片的芯片测试信号至处理模块；处理模块对测试信号接口组接收到的各个芯片测试座输出的芯片测试信号分别进行分析，并将分析得出的测试结果从信号输出接口发送给上位机。本申请还公开一种芯片老化测试系统。本申请提升了芯片测试的效率和准确率。

今年以来佰维存储新获得专利授权5个。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了2.1亿元，同比增174.15%。

数据来源：天眼查APP

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