双元科技获得发明专利授权：“一种厚度测量方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示双元科技（688623）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种厚度测量方法”，专利申请号为CN202411506447.6，授权日为2025年2月7日。

专利摘要：本发明公开了一种基于β射线的探测器、测厚仪及厚度测量方法，方法包括：空载时，中央光电传感单元和多个外围光电传感单元分别采集第一中央射线强度信号和多个第一外围射线强度信号，计算第一综合射线强度；将被测物置于β射线源和探测器之间；通过中央光电传感单元和多个外围光电传感单元分别采集β射线穿过被测物之后的第二中央射线强度信号和多个第二外围射线强度信号，根据所述第二中央射线强度信号和多个第二外围射线强度信号计算第二综合射线强度；根据第一综合射线强度和第二综合射线强度计算被测物厚度，该方法能够有效解决传统电离室在线检测过程中被测物高度变化引起的厚度测量值波动的问题。

今年以来双元科技新获得专利授权3个，较去年同期增加了200%。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了1945.79万元，同比增51.45%。

数据来源：天眼查APP

以上内容为证券之星据公开信息整理，由智能算法生成（网信算备310104345710301240019号），不构成投资建议。