长光华芯获得发明专利授权：“检测系统和检测方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示长光华芯（688048）新获得一项发明专利授权，专利名为“检测系统和检测方法”，专利申请号为CN202411154623.4，授权日为2025年2月7日。

专利摘要：本发明提供一种检测系统和检测方法，检测系统包括：分束器；位于分束器第一侧的半导体激光器，半导体激光器适于输出激光束；位于半导体激光器至分束器的光路中依次排布的准直组件、第一光阑和第二光阑；位于分束器第二侧的反射镜组，反射镜组包括反射镜；位于分束器第三侧的光束分析仪；聚焦镜，位于光束分析仪和分束器之间；挡板开关，用于位于反射镜组和分束器之间；分束器用于透射部分激光束至光束分析仪、并在挡板开关打开时反射部分激光束至反射镜；反射镜用于在挡板开关打开时反射激光束沿原光路返回至半导体激光器。检测系统对半导体激光器的可靠性进行精确检测。

今年以来长光华芯新获得专利授权4个，较去年同期增加了100%。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了6219.78万元，同比增13.56%。

数据来源：天眼查APP

以上内容为证券之星据公开信息整理，由智能算法生成（网信算备310104345710301240019号），不构成投资建议。