广立微获得实用新型专利授权：“一种电性测试结构”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示广立微（301095）新获得一项实用新型专利授权，专利名为“一种电性测试结构”，专利申请号为CN202420282117.2，授权日为2025年1月28日。

专利摘要：本实用新型提供一种电性测试结构，包括：多个待测试电路，多个所述待测试电路按照依据测试目的依次排列，至少两个所述待测试电路的至少一个参数是不相同的；多个焊盘，除起始端和终端的所述焊盘仅与一个所述待测试电路连接，其余任一所述焊盘两端均连接有所述待测试电路。通过按照测试目的依次排列待测试电路，可以保证测试的顺序和准确性，并且至少有两个待测试电路之间的至少一个参数是不相同的，保持其它参数不变，只改变待测试的变量，可以消除其它因素对测试结果的影响，从而更准确地测量待测试参数的变化情况。本实用新型设计简单高效，能够有效地进行电路测试，并且方便比较不同参数的电路性能，具有重要的应用价值。

今年以来广立微新获得专利授权4个。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了1.32亿元，同比增41.77%。

数据来源：天眼查APP

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