深科技获得发明专利授权：“一种基于ICT和FCT的软失效预测方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示深科技（000021）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种基于ICT和FCT的软失效预测方法”，专利申请号为CN202110167707.1，授权日为2025年1月24日。

专利摘要：一种基于ICT和FCT的软失效预测方法，包括以下步骤：步骤S1、从产品的ICT和FCT测试项目中筛选出重点关注测试项目；收集因重点关注测试项目相关问题而被客退的产品的ICT和FCT测试数据，从而组成非正常数据集；步骤S2、根据所述被客退的产品的生产时间，获取同一批次但未被客退的产品的ICT和FCT测试数据，从而组成正常数据集；步骤S3、基于非正常数据集和正常数据集，构建用于根据产品的ICT和FCT测试数据预判产品是否存在软失效的软失效预测模型；步骤S4、根据软失效预测模型，实时分析产品的ICT和FCT测试数据，从而预测产品是否存在软失效。本发明的软失效预测方法设计新颖，实用性强。

今年以来深科技新获得专利授权1个，较去年同期减少了80%。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了1.77亿元，同比增2.47%。

数据来源：天眼查APP

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