兆易创新获得实用新型专利授权：“延时测试电路和探针结构”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示兆易创新（603986）新获得一项实用新型专利授权，专利名为“延时测试电路和探针结构”，专利申请号为CN202420423762.1，授权日为2024年12月13日。

专利摘要：本公开提供了一种延时测试电路和探针结构，涉及半导体技术领域。其中，延时测试电路包括：并联的两个测试支路，并联的两个测试支路中的一个包括第一输入端和第一输出端，并联的两个测试支路中的另一个包括第二输入端和第二输出端，第一输入端和第二输入端用于接收同一起振信号，第一输出端用于输出第一振荡信号，第二输出端用于输出第二振荡信号；相位检测器，相位检测器的输入端分别与第一输出端以及第二输出端连接，用于接收第一振荡信号和第二振荡信号，相位检测器的输出端用于输出第一振荡信号和第二振荡信号之间的相位差。通过本公开的技术方案，能够检测两个测试支路输出的交流信号的相位和频率的差异。

今年以来兆易创新新获得专利授权73个，较去年同期增加了69.77%。结合公司2024年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了5.88亿元，同比增23.25%。

数据来源：天眼查APP

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