永新光学获得发明专利授权：“用于半导体缺陷检测的图像信息的获取装置及方法”_股票频道

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示永新光学（603297）新获得一项发明专利授权，专利名为“用于半导体缺陷检测的图像信息的获取装置及方法”，专利申请号为CN202211030590.3，授权日为2024年11月29日。

专利摘要：本发明公开了一种用于半导体缺陷检测的图像信息的获取装置，包括依次设置的光源、光束扩束准直模块、样品载物台、显微镜头、CCD成像探测器和控制电脑，在显微镜头与CCD成像探测器之间设置有偏振检测模块，本发明在短波红外显微成像基础上引入偏振成像，不仅能够获得缺陷的强度信息，也能够获得缺陷的偏振信息，能够提供了多至8个的图像信息，对于硅、锗、砷化镓、磷化铟等大多数不透明的半导体材料，有利于分析裂纹、翘曲、划痕、固体颗粒、金属污染、有机污染等缺陷特征，完成不同种类缺陷的快速识别判断和定位。

今年以来永新光学新获得专利授权15个，较去年同期增加了66.67%。结合公司2024年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了5568.25万元，同比增21.33%。