广立微获得发明专利授权：“半导体机台数据异常检测方法、装置及计算机设备”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“半导体机台数据异常检测方法、装置及计算机设备”，专利申请号为CN202411134809.3，授权日为2024年11月19日。

专利摘要：本申请涉及一种半导体机台数据异常检测方法、装置及计算机设备，根据机台样本数据，计算机台样本数据对应的距离相似度矩阵；将机台样本数据输入初始异常检测模型，确定机台样本数据对应的注意力权重矩阵；根据距离相似度矩阵和注意力权重矩阵，确定初始异常检测模型的目标损失函数；根据机台样本数据以及目标损失函数，训练初始异常检测模型，直到目标损失函数收敛到预设数值区间，得到训练好的异常检测模型；获取待检测机台数据；将待检测机台数据输入至训练好的异常检测模型，确定待检测机台数据中的异常数据；基于目标损失函数，能够提高初始异常检测模型的性能；基于训练好的异常检测模型，能够有效提高异常检测的准确性以及可靠性。

今年以来广立微新获得专利授权43个，较去年同期增加了79.17%。结合公司2024年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了1.32亿元，同比增41.77%。

数据来源：天眼查APP

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