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中科飞测获得发明专利授权:“一种光斑校正方法、系统、集成电路检测设备和存储介质”

来源:证券之星企业动态 2024-11-16 03:46:00
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证券之星消息,根据天眼查APP数据显示中科飞测(688361)新获得一项发明专利授权,专利名为“一种光斑校正方法、系统、集成电路检测设备和存储介质”,专利申请号为CN202110760279.3,授权日为2024年11月15日。

专利摘要:本发明提供的光斑校正方法、系统、集成电路检测设备和存储介质,通过获取检测光束通过光学元件后的光斑图像;根据光斑图像获取光斑形变的量化指标,光斑形变包括旋转、均匀性、平移和离焦中的至少一个;根据量化指标,调节光学元件的空间自由度,直至量化指标在预设阈值范围内。可见不跟发明实现了光斑形变成因的量化,并根据量化指标对光学元件进行空间自由度的调节,从而对光斑进行调节。基于此,本发明可以对光斑形变进行自动化调节,形成自动反馈,从而保证检测设备的光斑稳定性。

今年以来中科飞测新获得专利授权114个,较去年同期减少了5.79%。结合公司2024年中报财务数据,今年上半年公司在研发方面投入了2.07亿元,同比增114.22%。

数据来源:天眼查APP

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