全志科技获得发明专利授权：“图像坏点簇校正方法、计算机装置及计算机可读存储介质”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示全志科技（300458）新获得一项发明专利授权，专利名为“图像坏点簇校正方法、计算机装置及计算机可读存储介质”，专利申请号为CN202110059648.6，授权日为2024年9月17日。

专利摘要：本发明提供一种图像坏点簇校正方法、计算机装置及计算机可读存储介质，该方法包括获取初始图像，对初始图像中像素点进行坏点检测，如确定像素点为坏点，则对坏点进行校正计算，获得坏点的校正值；对像素点进行坏点检测包括：获取以待检测像素点为中心的第一邻域，提取第一邻域中同一颜色通道的第一像素矩阵，并剔除第一像素矩阵中预设数量的极值像素点后，计算剩余像素点的中值、待检测像素点与中值的绝对差值、待检测像素点与剩余像素点的加权平均值，根据该中值、绝对差值以及加权平均值判断待检测像素点是否为坏点。本发明还提供实现上述方法的计算机装置及计算机可读存储介质。本发明能够准确、高效的对图像中的坏点簇进行检测与校正。

今年以来全志科技新获得专利授权37个，较去年同期增加了105.56%。结合公司2024年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了2.64亿元，同比增15.4%。

数据来源：天眼查APP

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