普冉股份获得发明专利授权：“芯片测试设备及其芯片测试过程叠料或卡料检查方法”

证券之星消息，根据企查查数据显示普冉股份（688766）新获得一项发明专利授权，专利名为“芯片测试设备及其芯片测试过程叠料或卡料检查方法”，专利申请号为CN202110577196.0，授权日为2024年8月6日。

专利摘要：本发明公开了一种芯片测试设备，其开短路测试模块用于对放置于测试槽的待检芯片进行开短路测试；芯片标识读取模块用于在开短路测试模块对放置于测试槽的待检芯片完成开短路测试时，读取该待检芯片的寄存器中的标识然后更新存储到芯片测试设备的参考标识寄存器；如果芯片标识读取模块当前读取的待检芯片的标识同标识寄存器中存储的标识相同，控制器则输出叠料或卡料现象发生信息。本发明还公开了该芯片测试设备的芯片测试过程叠料或卡料检查方法。本发明便于测试工程师及时发现芯片叠料或卡料。

今年以来普冉股份新获得专利授权13个，较去年同期增加了225%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了1.91亿元，同比增28.74%。

数据来源：企查查

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