利扬芯片获得发明专利授权：“存储器修复测试方法及系统”

证券之星消息，根据企查查数据显示利扬芯片（688135）新获得一项发明专利授权，专利名为“存储器修复测试方法及系统”，专利申请号为CN202110682992.0，授权日为2024年5月14日。

专利摘要：本发明公开了一种存储器修复测试方法及系统，其中该方法包括如下步骤：生成一信息统计记录表；通过测试向量对待测存储器进行数据分析和地址解析，以得到存储器中失效存储单元的地址信息和数据信息；将失效存储单元的地址信息和对应的数据信息录入信息统计记录表中；当所有测试向量执行完毕后，根据信息统计记录表中记录的信息对存储器中失效存储单元进行修复处理；采用上述存储器修复测试方法，在采用多段测试向量对存储器进行测试过程中，中间无须停顿，待所有测试向量执行完毕后，统一有有序地对所有的失效存储单元进行修复处理，具有测试和修复处理效率高的优点，有效节约测试时间。

今年以来利扬芯片新获得专利授权8个，较去年同期增加了300%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了7516.24万元，同比增11.26%。

数据来源：企查查

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