广立微获得发明专利授权：“一种E-fuse熔断特性的测试电路、方法和系统”

证券之星消息，根据企查查数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种E-fuse熔断特性的测试电路、方法和系统”，专利申请号为CN202410039375.2，授权日为2024年5月14日。

专利摘要：本申请涉及一种E?fuse熔断特性的测试电路、方法和系统，该测试电路包括选择电路、开关电路和多个焊盘；开关电路包括多个E?fuse块和多个第一开关；E?fuse块包括多个E?fuse单元；选择电路的输入端连接地址信号和测试类型信号，选择电路根据地址信号和测试类型信号，控制开关电路选中目标E?fuse单元，以及选择目标E?fuse单元的工作模式；多个焊盘包括第三焊盘、第四焊盘、多个第一焊盘和多个第二焊盘；每个E?fuse单元分别连接到第一焊盘和第二焊盘；同一个E?fuse块中的E?fuse单元都连接到相同的一对第一焊盘和第二焊盘，相邻两个E?fuse块中的E?fuse单元共享第一焊盘或者第二焊盘；E?fuse单元包括E?fuse，E?fuse的一端通过第一开关连接到第三焊盘，另一端通过第一开关连接到第四焊盘。提高了电路的面积利用率。

今年以来广立微新获得专利授权21个，较去年同期增加了61.54%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了2.07亿元，同比增67.7%。

数据来源：企查查

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