中科飞测获得发明专利授权：“对缺陷的聚类方法及聚类装置、检测设备及可读存储介质”

证券之星消息，根据企查查数据显示中科飞测（688361）新获得一项发明专利授权，专利名为“对缺陷的聚类方法及聚类装置、检测设备及可读存储介质”，专利申请号为CN202110871489.X，授权日为2024年5月10日。

专利摘要：本申请公开了一种对缺陷的聚类方法。聚类方法包括：获取多个缺陷在第一图像中的第一位置信息；获取第二图像，第二图像包括多个图像单元；基于第一位置信息，将多个缺陷映射至第二图像中以形成映射图案；基于映射图案所在的图像单元的第二位置信息，对映射图案对应的缺陷划分为至少两个不同的类；及对每个不同的类中的缺陷单独进行聚类。本申请还公开了一种对缺陷的聚类装置、检测设备及计算机可读存储介质。将多个缺陷映射至第二图像中并形成映射图案，且先将多个缺陷划分为至少两个不同的类，再就不同的类中的缺陷单独进行聚类，在进一步进行单独聚类时，每一类中需要进行单独聚类的缺陷的数量较少，聚类的总的计算量较小。

今年以来中科飞测新获得专利授权44个，较去年同期减少了21.43%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了2.28亿元，同比增10.93%。

数据来源：企查查

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