利扬芯片获得发明专利授权：“一种基于FPGA的光学芯片测试装置和方法”

证券之星消息，根据企查查数据显示利扬芯片（688135）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种基于FPGA的光学芯片测试装置和方法”，专利申请号为CN202110810588.7，授权日为2024年4月19日。

专利摘要：本发明公开一种基于FPGA的光学芯片测试装置及方法，本发明利用FPGA板分析来自上位机的测试激励指令，以配置芯片的工作状态；在芯片生成测试数据后，FPGA板处理接收到的测试数据以生成测试结果，并将测试结果发送至上位机。本发明通过在FPGA板上完成测试配置数据的生成、测试数据的处理以及测试结果的生成，不需要将大量测试数据返回上位机作处理，精简了传输的测试数据，只需要FPGA板将测试结果传输至上位机显示即可，大大地减少了数据传输时间，提高了测试效率。由于ATE价格昂贵，采用FPGA板替代ATE减少了测试成本。

今年以来利扬芯片新获得专利授权6个，较去年同期增加了200%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了7516.24万元，同比增11.26%。

数据来源：企查查

以上内容由证券之星根据公开信息整理，由算法生成（网信算备310104345710301240019号），与本站立场无关，如数据存在问题请联系我们。本文为数据整理，不对您构成任何投资建议，投资有风险，请谨慎决策。