艾为电子获得发明专利授权：“一种测试模式进入方法及系统”

证券之星消息，根据企查查数据显示艾为电子（688798）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种测试模式进入方法及系统”，专利申请号为CN201910060796.2，授权日为2024年3月1日。

专利摘要：本申请公开了一种测试模式进入方法及系统，其中，所述测试模式进入方法设定了两个测试模式的进入条件，即在模拟单元接收的第一电压和第二电压满足第一预设条件，且所述数字单元接收到预设特征向量时，才使芯片进入测试模式，避免了芯片在正常工作过程中被误触发进入测试模式的情况出现，提高了芯片的工作稳定性。这是因为在芯片正常工作过程中，第一电压的正常取值范围是高于第二电压的正常取值范围的，不可能出现满足第一预设条件的情况；并且即使在第一电压和第二电压满足第一预设条件的情况下，还需要满足数字单元接收到预设特征向量才会使芯片进入测试模式，最大程度上杜绝了芯片在正常工作过程中被误触发的情况。

今年以来艾为电子新获得专利授权31个，较去年同期增加了520%。结合公司2023年中报财务数据，2023上半年公司在研发方面投入了3.28亿元，同比增7.77%。

数据来源：企查查

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