兆易创新获得发明专利授权：“控制存储芯片的测试方法及系统”

证券之星消息，根据企查查数据显示兆易创新（603986）新获得一项发明专利授权，专利名为“控制存储芯片的测试方法及系统”，专利申请号为CN201710818840.2，授权日为2024年2月27日。

专利摘要：本发明公开了一种控制存储芯片的测试方法及系统，包括：CPU通过系统总线将第一地址和第一数据预存在接口仿真加速器中；接口仿真加速器通过数据总线将第一地址和第一数据发送给存储接口控制模块；存储接口控制模块将第一数据写入存储芯片中与第一地址对应的存储单元内；接口仿真加速器通过数据总线读取第一地址存储的数据，得到第二数据；CPU从接口仿真加速器获取第二数据，并判断第二数据和第一数据是否相同，若相同，则通过测试。本发明公开的技术方案通过结合硬件测试的速度与软件仿真测试的灵活可控，创造性的设计接口仿真加速器，通过此接口仿真加速器，完成对存储器接口控制模块的全面快速验证。

今年以来兆易创新新获得专利授权29个。结合公司2023年中报财务数据，2023上半年公司在研发方面投入了4.77亿元，同比减4.07%。

数据来源：企查查

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