长光华芯获得发明专利授权：“外延片光致发光测试装置及其工作方法”

证券之星消息，根据企查查数据显示长光华芯（688048）新获得一项发明专利授权，专利名为“外延片光致发光测试装置及其工作方法”，专利申请号为CN202311316823.0，授权日为2024年2月23日。

专利摘要：本发明提供一种外延片光致发光测试装置及其工作方法，其中外延片光致发光测试装置包括：发光结构；旋转支撑座；承载平台，位于旋转支撑座上，承载平台的承载面与旋转支撑座所在的平面垂直，承载平台中具有贯穿承载平台的固定轴，固定轴与旋转支撑座固定连接；载物托盘，位于承载平台的承载面上，载物托盘适于承载外延片，外延片背离承载平台的一侧表面接收发光结构发射出的光；光谱分析仪，光谱分析仪对外延片侧面发出的光进行信息采集与信息输出。所述外延片光致发光测试装置结构简单且测试精确。

今年以来长光华芯新获得专利授权3个，较去年同期减少了25%。结合公司2023年中报财务数据，2023上半年公司在研发方面投入了5477.17万元，同比增1.26%。

数据来源：企查查

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