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长光华芯获得发明专利授权:“外延片光致发光测试装置及其工作方法”

来源:证券之星企业动态 2024-02-25 02:16:35
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证券之星消息,根据企查查数据显示长光华芯(688048)新获得一项发明专利授权,专利名为“外延片光致发光测试装置及其工作方法”,专利申请号为CN202311316823.0,授权日为2024年2月23日。

专利摘要:本发明提供一种外延片光致发光测试装置及其工作方法,其中外延片光致发光测试装置包括:发光结构;旋转支撑座;承载平台,位于旋转支撑座上,承载平台的承载面与旋转支撑座所在的平面垂直,承载平台中具有贯穿承载平台的固定轴,固定轴与旋转支撑座固定连接;载物托盘,位于承载平台的承载面上,载物托盘适于承载外延片,外延片背离承载平台的一侧表面接收发光结构发射出的光;光谱分析仪,光谱分析仪对外延片侧面发出的光进行信息采集与信息输出。所述外延片光致发光测试装置结构简单且测试精确。

今年以来长光华芯新获得专利授权3个,较去年同期减少了25%。结合公司2023年中报财务数据,2023上半年公司在研发方面投入了5477.17万元,同比增1.26%。

数据来源:企查查

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