龙芯中科获得发明专利授权：“测试方法、装置、电子设备及存储介质”

证券之星消息，根据企查查数据显示龙芯中科（688047）新获得一项发明专利授权，专利名为“测试方法、装置、电子设备及存储介质”，专利申请号为CN202010466031.1，授权日为2023年12月5日。

专利摘要：本申请提供一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：构建测试指令集；其中，测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令，测试指令集中任意两个测试指令均不相同；多种测试中的任意一种测试需要通过执行测试指令集中的一个或多个测试指令实现；根据多种测试的测试类型，确定测试的配置参数；根据确定的测试的配置参数，由主状态机控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令，以对测试对象进行多种测试，获得测试结果；解决了现有技术中的测试方法所获得的测试结果中含有重复的故障信息的技术问题，提高了测试结果的精确度，进而提高了故障修复效率。

今年以来龙芯中科新获得专利授权88个，较去年同期增加了57.14%。结合公司2023年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了1.97亿元，同比增57.64%。

数据来源：企查查

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