长光华芯新获得发明专利授权：“一种用于发光芯片测试的双工位装置”

证券之星消息，根据企查查数据显示长光华芯（688048）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种用于发光芯片测试的双工位装置”，专利申请号为CN202110071427.0，授权日为2023年11月28日。

专利摘要：本申请提供一种用于发光芯片测试的双工位装置，包括固定底板及设置在固定板上的仪器固定底座；水平移动组件，包括伺服电机和丝杠进退组件，丝杆进退组件在伺服电机的带动下做前进或后退运动；测试仪器组件，设置有透镜、XYZ三轴运动组件、积分球、光谱仪电源、棱镜、滑台气缸及热堆组件，在透镜与棱镜之间设置有积分球，积分球与光谱仪电源连接，实现功率、波长测试；以及通过丝杆进退组件、XYZ三轴运动组件控制及滑台气缸，使得热堆组件、棱镜及透镜横向同轴，实现偏振测试。本方案，可同时实现对发光芯片的功率、波长及偏振的测试，有效提高了发光芯片的测试效率，便于规模化测试的实现，有效保证了量产的发光芯片的性能。

今年以来长光华芯新获得专利授权38个，较去年同期减少了20.83%。结合公司2023年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了5477.17万元，同比增1.26%。

数据来源：企查查

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